ПО Damaskos MU-EPSLN предназначена управления и калибровки коаксиальных и волноводных платформ Damaskos

MU-EPSLN

Наличие: По запросу

По запросу
По запросу
По запросу

Измерители свойств материалов MU-EPSLN Подробнее




Американская компания Damaskos Inc - производитель тестовых платформ для измерения свойств материалов с более чем 24-х летним опытом в области электромагнетизма. Компания имеет большую базу знаний и опыт практической реализации технологий измерений свойств различных материалов, таких как радио поглощаемый материал, плоские обтекатели, магнитные материалы, ферриты, тонкие листы диэлектриков, жидкие материалы, биологические материалы, порошковые материалы и др.

Для измерений диэлектрических и магнитных свойств материалов, тангенса угла… подробнее





Обзор
Свернуть Развернуть
Основные возможности и технические характеристики

Программное обеспечение MU-EPSLN™ и производные программные пакеты, работающие в операционной системе Microsoft Windows 2000/XP/Vista и Intel Macintosh OS X, используются для измерения S-параметров (параметров рассеяния) и для вычисления характеристик материалов от ВЧ до частот миллиметрового диапазона. В случае использования этих пакетов вычисляется магнитная проницаемость (µ) и диэлектрическая проницаемость (ε) изотропных материалов, измеряемых с использованием круглых и квадратных коаксиальных резонаторов, либо в любых схемах компании DI, поддерживающих измерение моды типа TEM (поперечная электромагнитная мода), и/или в схемах с волноводами компании DI. Эти программы предоставляют пользователям возможность выполнения калибровки типа TRL/LRL («пропускание-отражение-линия»/«линия-отражение-линия»), калибровки с использованием эталонов нагрузок и калибровки с использованием эталонов малых смещений. Необработанные и обработанные данные могут быть сохранены на диске.

Эти программы предоставляют пользователям гибкие меню и выполняют полное управление измерительными устройствами. Качание в выбранном пользователем частотном диапазоне может выполняться с использованием такого числа шагов изменения частоты, которое поддерживается анализатором. Пользователь может использовать все функциональные возможности сетевого анализатора либо с использованием внешнего контроллера, либо с использованием лицевой панели.

Пользователю предоставляется доступ ко всем необработанным и обработанным данным для выполнения дополнительной и/или специальной обработки данных. Для точной установки образца пользователь может изменять фазу сигнала. Помимо диаграмм Смита (круговых диаграмм полных сопротивлений) и диаграмм Коул-Коула (диаграмм зависимости мнимой составляющей комплексной относительной диэлектрической проницаемости от действительной диэлектрической проницаемости на различных частотах) также выводятся графики S-параметров (амплитуда и фаза), μ, ε и импеданса в прямоугольной системе координат.

Кроме того, может использоваться опция программируемой временной области и временной селекции.

Предоставляются драйверы для использования анализаторов серий ZVA, ZVB, ZVC и ZVK компании Rohde&Schwarz. Это программное обеспечение может использоваться на персональных компьютерах, совместимых с ПК IBM, или на компьютерах Intel Macintosh с операционной системой OS X (10.5 или выше). Также требуется интерфейс GPIB компании National Instruments Corp. Этот интерфейс может быть предоставлен компанией DI (Damaskos, Inc.).

Свернуть Развернуть
Основные возможности и технические характеристики

Программное обеспечение MU-EPSLN™ и производные программные пакеты, работающие в операционной системе Microsoft Windows 2000/XP/Vista и Intel Macintosh OS X, используются для измерения S-параметров (параметров рассеяния) и для вычисления характеристик материалов от ВЧ до частот миллиметрового диапазона. В случае использования этих пакетов вычисляется магнитная проницаемость (µ) и диэлектрическая проницаемость (ε) изотропных материалов, измеряемых с использованием круглых и квадратных коаксиальных резонаторов, либо в любых схемах компании DI, поддерживающих измерение моды типа TEM (поперечная электромагнитная мода), и/или в схемах с волноводами компании DI. Эти программы предоставляют пользователям возможность выполнения калибровки типа TRL/LRL («пропускание-отражение-линия»/«линия-отражение-линия»), калибровки с использованием эталонов нагрузок и калибровки с использованием эталонов малых смещений. Необработанные и обработанные данные могут быть сохранены на диске.

Эти программы предоставляют пользователям гибкие меню и выполняют полное управление измерительными устройствами. Качание в выбранном пользователем частотном диапазоне может выполняться с использованием такого числа шагов изменения частоты, которое поддерживается анализатором. Пользователь может использовать все функциональные возможности сетевого анализатора либо с использованием внешнего контроллера, либо с использованием лицевой панели.

Пользователю предоставляется доступ ко всем необработанным и обработанным данным для выполнения дополнительной и/или специальной обработки данных. Для точной установки образца пользователь может изменять фазу сигнала. Помимо диаграмм Смита (круговых диаграмм полных сопротивлений) и диаграмм Коул-Коула (диаграмм зависимости мнимой составляющей комплексной относительной диэлектрической проницаемости от действительной диэлектрической проницаемости на различных частотах) также выводятся графики S-параметров (амплитуда и фаза), μ, ε и импеданса в прямоугольной системе координат.

Кроме того, может использоваться опция программируемой временной области и временной селекции.

Предоставляются драйверы для использования анализаторов серий ZVA, ZVB, ZVC и ZVK компании Rohde&Schwarz. Это программное обеспечение может использоваться на персональных компьютерах, совместимых с ПК IBM, или на компьютерах Intel Macintosh с операционной системой OS X (10.5 или выше). Также требуется интерфейс GPIB компании National Instruments Corp. Этот интерфейс может быть предоставлен компанией DI (Damaskos, Inc.).

Комплектацию Вы можете узнать:
По тел.: +7 (495) 105 96 88 или
Написать нам письмо: info@micro-electronics.ru
Комплектацию Вы можете узнать:
По тел.: +7 (495) 105 96 88 или
Написать нам письмо: info@micro-electronics.ru
Свернуть Развернуть
Сведения о реестре СИ

Номер в Госреестре

Наименование СИ

Обозначение типа СИ

Изготовитель

Срок свидетельства или заводской номер

Не в реестре
Свернуть Развернуть
Сведения о реестре СИ

Номер в Госреестре

Наименование СИ

Обозначение типа СИ

Изготовитель

Срок свидетельства или заводской номер

Не в реестре
Характеристики

ПРОГРАММНОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ ИЗМЕРЕНИЯ ХАРАКТЕРИСТИК МАТЕРИАЛОВ MU-EPSLN™

ИЗМЕРЕНИЯ ХАРАКТЕРИСТИК С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ КОАКСИАЛЬНЫХ ВОЛНОВОДОВ И ВОЛНОВОДОВ TE

Параметр Тип

Образец

μ и ε S11 и S21

Произвольное расположение

μ и ε S11, S21

Закороченный, двойной толщины

μ S11 Закороченный, тонкий
ε S11

Разомкнутый, коаксиальный, тонкий

ε, μ = 1 S11

Произвольный импеданс нагрузки

ε, μ = 1 S21

Произвольное расположение

Zs (импеданс листового материала)

S11 или S21

Произвольное расположение

  • Калибровка

  •                   Типа LRL/TRL
                      С использованием эталонов малых смещений
                      При разомкнутой цепи/при замкнутой цепи/при подключенной нагрузке

  • Полное управление измерительными устройствами
  • Программируемая временная область и временная селекция
  • Windows 2000/XP и Mac OS X 10.2 или выше

  • Модели и опции
    Товар
    Модели и Опции
    Описание
    Цена Заказать
    Модели
    MU-EPSLN
    ПО Damaskos MU-EPSLN предназначена управления и калибровки коаксиальных и волноводных платформ Damaskos
    По запросу
    - шт +
    Отзывы
    Добавить отзыв
    Оцените товар:
    Ваше имя
    Достоинства

    Недостатки

    Комментарий

    Символы на картинке


    Shakalesere
    13 сентября 2020
    Список просмотренных товаров пуст
    Список избранного пуст
    Ваша корзина пуста
    Помощь
    Ошибка на сайте? Выдели её и нажми Ctrl+Enter