ПО Damaskos MU-EPSLN предназначена управления и калибровки коаксиальных и волноводных платформ Damaskos

MU-EPSLN
НаличиеПо запросу
По запросу
По запросу
По запросу
Измерители свойств материалов MU-EPSLN Подробнее
Обзор
Свернуть Развернуть
Основные возможности и технические характеристики

Программное обеспечение MU-EPSLN™ и производные программные пакеты, работающие в операционной системе Microsoft Windows 2000/XP/Vista и Intel Macintosh OS X, используются для измерения S-параметров (параметров рассеяния) и для вычисления характеристик материалов от ВЧ до частот миллиметрового диапазона. В случае использования этих пакетов вычисляется магнитная проницаемость (µ) и диэлектрическая проницаемость (ε) изотропных материалов, измеряемых с использованием круглых и квадратных коаксиальных резонаторов, либо в любых схемах компании DI, поддерживающих измерение моды типа TEM (поперечная электромагнитная мода), и/или в схемах с волноводами компании DI. Эти программы предоставляют пользователям возможность выполнения калибровки типа TRL/LRL («пропускание-отражение-линия»/«линия-отражение-линия»), калибровки с использованием эталонов нагрузок и калибровки с использованием эталонов малых смещений. Необработанные и обработанные данные могут быть сохранены на диске.

Эти программы предоставляют пользователям гибкие меню и выполняют полное управление измерительными устройствами. Качание в выбранном пользователем частотном диапазоне может выполняться с использованием такого числа шагов изменения частоты, которое поддерживается анализатором. Пользователь может использовать все функциональные возможности сетевого анализатора либо с использованием внешнего контроллера, либо с использованием лицевой панели.

Пользователю предоставляется доступ ко всем необработанным и обработанным данным для выполнения дополнительной и/или специальной обработки данных. Для точной установки образца пользователь может изменять фазу сигнала. Помимо диаграмм Смита (круговых диаграмм полных сопротивлений) и диаграмм Коул-Коула (диаграмм зависимости мнимой составляющей комплексной относительной диэлектрической проницаемости от действительной диэлектрической проницаемости на различных частотах) также выводятся графики S-параметров (амплитуда и фаза), μ, ε и импеданса в прямоугольной системе координат.

Кроме того, может использоваться опция программируемой временной области и временной селекции.

Предоставляются драйверы для использования анализаторов серий ZVA, ZVB, ZVC и ZVK компании Rohde&Schwarz. Это программное обеспечение может использоваться на персональных компьютерах, совместимых с ПК IBM, или на компьютерах Intel Macintosh с операционной системой OS X (10.5 или выше). Также требуется интерфейс GPIB компании National Instruments Corp. Этот интерфейс может быть предоставлен компанией DI (Damaskos, Inc.).

Свернуть Развернуть
Основные возможности и технические характеристики

Программное обеспечение MU-EPSLN™ и производные программные пакеты, работающие в операционной системе Microsoft Windows 2000/XP/Vista и Intel Macintosh OS X, используются для измерения S-параметров (параметров рассеяния) и для вычисления характеристик материалов от ВЧ до частот миллиметрового диапазона. В случае использования этих пакетов вычисляется магнитная проницаемость (µ) и диэлектрическая проницаемость (ε) изотропных материалов, измеряемых с использованием круглых и квадратных коаксиальных резонаторов, либо в любых схемах компании DI, поддерживающих измерение моды типа TEM (поперечная электромагнитная мода), и/или в схемах с волноводами компании DI. Эти программы предоставляют пользователям возможность выполнения калибровки типа TRL/LRL («пропускание-отражение-линия»/«линия-отражение-линия»), калибровки с использованием эталонов нагрузок и калибровки с использованием эталонов малых смещений. Необработанные и обработанные данные могут быть сохранены на диске.

Эти программы предоставляют пользователям гибкие меню и выполняют полное управление измерительными устройствами. Качание в выбранном пользователем частотном диапазоне может выполняться с использованием такого числа шагов изменения частоты, которое поддерживается анализатором. Пользователь может использовать все функциональные возможности сетевого анализатора либо с использованием внешнего контроллера, либо с использованием лицевой панели.

Пользователю предоставляется доступ ко всем необработанным и обработанным данным для выполнения дополнительной и/или специальной обработки данных. Для точной установки образца пользователь может изменять фазу сигнала. Помимо диаграмм Смита (круговых диаграмм полных сопротивлений) и диаграмм Коул-Коула (диаграмм зависимости мнимой составляющей комплексной относительной диэлектрической проницаемости от действительной диэлектрической проницаемости на различных частотах) также выводятся графики S-параметров (амплитуда и фаза), μ, ε и импеданса в прямоугольной системе координат.

Кроме того, может использоваться опция программируемой временной области и временной селекции.

Предоставляются драйверы для использования анализаторов серий ZVA, ZVB, ZVC и ZVK компании Rohde&Schwarz. Это программное обеспечение может использоваться на персональных компьютерах, совместимых с ПК IBM, или на компьютерах Intel Macintosh с операционной системой OS X (10.5 или выше). Также требуется интерфейс GPIB компании National Instruments Corp. Этот интерфейс может быть предоставлен компанией DI (Damaskos, Inc.).

Комплектацию Вы можете узнать:
По тел.: +7 (495) 105 96 88 или
Написать нам письмо: info@micro-electronics.ru
Комплектацию Вы можете узнать:
По тел.: +7 (495) 105 96 88 или
Написать нам письмо: info@micro-electronics.ru
Свернуть Развернуть
Сведения о реестре СИ

Номер в Госреестре

Наименование СИ

Обозначение типа СИ

Изготовитель

Срок свидетельства или заводской номер

Не в реестре
Свернуть Развернуть
Сведения о реестре СИ

Номер в Госреестре

Наименование СИ

Обозначение типа СИ

Изготовитель

Срок свидетельства или заводской номер

Не в реестре
Характеристики

ПРОГРАММНОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ ИЗМЕРЕНИЯ ХАРАКТЕРИСТИК МАТЕРИАЛОВ MU-EPSLN™

ИЗМЕРЕНИЯ ХАРАКТЕРИСТИК С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ КОАКСИАЛЬНЫХ ВОЛНОВОДОВ И ВОЛНОВОДОВ TE

Параметр Тип

Образец

μ и ε S11 и S21

Произвольное расположение

μ и ε S11, S21

Закороченный, двойной толщины

μ S11 Закороченный, тонкий
ε S11

Разомкнутый, коаксиальный, тонкий

ε, μ = 1 S11

Произвольный импеданс нагрузки

ε, μ = 1 S21

Произвольное расположение

Zs (импеданс листового материала)

S11 или S21

Произвольное расположение

  • Калибровка

  •                   Типа LRL/TRL
                      С использованием эталонов малых смещений
                      При разомкнутой цепи/при замкнутой цепи/при подключенной нагрузке

  • Полное управление измерительными устройствами
  • Программируемая временная область и временная селекция
  • Windows 2000/XP и Mac OS X 10.2 или выше

  • Модели и опции
    Товар
    Модели и Опции
    Описание
    Цена Заказать
    Модели
    MU-EPSLN
    ПО Damaskos MU-EPSLN предназначена управления и калибровки коаксиальных и волноводных платформ Damaskos
    По запросу
    - шт +
    Отзывы
    Добавить отзыв
    Оцените товар:
    Ваше имя
    Достоинства

    Недостатки

    Комментарий

    Символы на картинке


    Тут еще никто ничего не писал, стань первым!
    Список просмотренных товаров пуст
    Список избранного пуст
    Ваша корзина пуста
    Помощь
    Ошибка на сайте? Выдели её и нажми Ctrl+Enter